簡要描述:牛津儀器CMI760線路板孔面銅測厚儀測量線路板孔銅面銅測厚儀膜厚儀,臺式專用銅厚測試儀CMI760有三種不同類型探頭,多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應用需求
牛津儀器CMI760線路板孔面銅測厚儀可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準確和***的測量。CMI 700臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴展性,對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應用需求。
同時CMI 760具有***的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。
CMI 700配置包括:
CMI 700主機及證書
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊(1個)
NIST認證的校驗用標準片及證書
臺式專用銅厚測試儀CMI760線路板孔面銅測厚儀有三種不同類型探頭,多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應用需求。
選配配件:
ETP探頭 TRP探頭 SRG軟件
SRP-4面銅探頭測試技術參數(shù):
銅厚測量范圍:
化學銅:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
電鍍銅:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm –152 μm)
線形銅可測試線寬范圍:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
準確度:±1% (±0.1 μm)參考標準片
***度:化學銅:標準差0.2 %;電鍍銅:標準差0.5 %
分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
ETP孔銅探頭測試技術參數(shù):
可測試最小孔直徑:35 mils (899 μm)
測量厚度范圍:0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標準的相關規(guī)定
準確度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
***度:1.2 mil(30μm)時,達到1.0% (實驗室情況下)
分辨率: 0.01 mil(0.1 μm)
顯示 6位LCD數(shù)顯
測量單位 um-mils可選
統(tǒng)計數(shù)據(jù) 平均值、標準偏差、值max、最小值min
接口 232串口,打印并口
電源 AC220
儀器尺寸 290x270x140mm
儀器重量 2.79kg